北京某985大学购买剪切散斑干涉仪，用于无损检测。测试复合材料的缺陷及微变形。

        剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术(ESPI，Electronic Speckle Pattern Interferometry)的许多优点外，还有光路简单，对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数，因此，在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT, nondestructive testing）领域。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源，具有电子散斑条纹实时处理软件，操作方便，便于携带，可用于现场测量。采用相移技术分析条纹，可获得离面位移导数场的全场数据。