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  三维云纹干涉仪

    三维云纹干涉仪是由云纹干涉光路和泰曼/格林干涉光路组合而成;将高灵敏度正交型光栅复制在试件的表面,并置于光路系统中,经调试后可分别获得两个面内位移场(UV)和离面位移场(W);激光是由单模光纤及耦合器分解和传输到光路系统中的;光路中置有PZT压电晶体,通过驱动电源控制和驱动压电晶体和反射镜来实现相移技术,相移技术可以使测量灵敏度提高一个量级,仪器还附有加载系统及调节座;配以高温炉可进行热变形测量。

技术参数及图例:

主要技术指标:

1、位移灵敏度:  面内u & v 场: 417nm (1200 线/mm),

                             离面 w场: 266nm (l/2)

2、相移灵敏度:   ∽20nm/V

3、光场尺寸:    35×35mm

4、测试范围:    ≤20×20mm

5、条纹分辨率:  优于1/20级条纹

6、测量应变范围:10me~5%e

7、激光器:      单纵膜,20 mw, λ=532nm

8、图像采集:    CMOS摄像头,分辨率 1280 x 1024,USB接口

9、加载系统:    拉伸、压缩、弯曲三种加载方式

主要配置:

1、  主机

2、  20mW半导体激光器:1个

3、  USB摄像头(内置):1只

4、  相移器:1个

5、  光纤:3根

6、  光纤耦合器:1套

7、  1200mm×800mm自动平衡隔振平台:1套

8、  品牌液晶台式电脑:1套

9、  拉伸、压缩、弯曲三种加载方式:1套

10、软件:1套

 

应用范围:

云纹干涉法是一种非接触测量面内位移和应变场的方法,具有较为广泛的应用范围。

该技术可用于测量复合材料的残余应力;测量微电子封装组件热疲劳,热湿耦合,热载荷引起的变形;可用于非接触测量航空材料在高温状态下的力学性能;还可以应用于材料构件内部的缺陷,裂纹的无损检测。应用范围非常广泛。

点击次数:5798 更新时间:2016-08-01 【打印此页】 【返回

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